ピンポイント™ ナノメカニカルモード ピンポイント™コンダクティブAFMで、 電流の測定において最高の分解能および感度を実現 Learn More コンダクティブAFM サンプル表面の局所電子構造を探る Learn More I-V スペクトロスコピー IVスペクトロスコピーでは、サンプルを測定した後、選択されたサンプル領域で測定されます。 Learn More 静電気力顕微鏡(EFM) 静電気力による高解像度および高感度イメージング Learn More ケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM) 表面電位の高解像度および高感度イメージング Learn More ダイナミックコンタクトEFM(DC-EFM) 静電気力による高解像度および高感度イメージング Learn More 圧電応答力顕微鏡(PFM) 強誘電性試料、または圧電性試料の極性などの電気的ドメイン構造を正確に測定します。 Learn More 圧電応答スペクトロスコピー チップと試料表面の間のDCバイアスに対する局所的な振幅・位相の応答を測定します。 Learn More クイックステップ™ SCM SCMデータ取得を高速化するクイックステップ™モード Learn More 走査型キャパシタンス顕微鏡(SCM) 電荷分布の高解像度および高感度イメージング Learn More 走査型拡がり抵抗顕微鏡(SSRM) 試料表面の局所電子構造を探る Learn More 走査型トンネリング顕微鏡(STM) 試料表面の局所電子構造を探る Learn More フォトカレントマッピング(PCM) 感光性材料研究に革新を起こす Learn More
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