原子間力顕微鏡の技術について学ぶことができるウェビナー、教育映像など様々なコンテンツを提供します。
パーク・システムズは、グローバルな研究およびエンジニアリングのための先端計測機器でナノテクノロジーの革新を実現します。
RSE(参照分光エリプソメトリー)は、サンプルを基準と比較する特別なタイプのエリプソメーターです。これにより、サンプルと基準の間のエリプソメトリー差を測定できます。基準の向きにより、測定中に光学コンポーネントを移動または変調する必要がなく、単一ショット測定で完全な高解像度スペクトルを取得できます。1秒間に200スペクトルが取得されます。同期されたx-yステージにより、数分以内に大面積フィルム厚さマップの取得が可能です。
Fast Wafer Inspection.