研究・表面分析用AFM

AFMモードおよび技法

Park AFMは、包括的なスキャンモードを搭載しており、幅広い種類のデータを正確かつ効率的に収集することができます。チップ先端のシャープネスとサンプルの完全性を維持する世界唯一の真のノンコタクト™モードから、高度な磁気力顕微鏡（MFM）まで、弊社はAFM業界で最も革新的で正確なスキャンモードを提供しています。

イメージングモード

革新的なイメージングモードと技術を提供しています。真のノンコンタクト™モードは、唯一の完全非接触AFMスキャンモードで最も正確なスキャンが可能です。

電気特性計測モード

パーク・システムズは様々な電気特性モードを備え、コンダクタンスやサンプル抵抗などの正確な情報を提供します。

ナノメカニカルモード

メカニカルスキャンモードで、サンプルの機械的特性を簡単に測定できます。パーク・システムズの正確さで信頼できるデータを収集できます。

スペシャルモード

弊社は革新的なイメージングモードと技術を提供しています。真のノンコンタクト™モードは、唯一の完全非接触AFMスキャンモードで正確なスキャンが可能です。