Park Systems

スペシャルモード

パーク・システムズは、最も革新的なイメージングモードと技術を提供しています。弊社の真のノンコンタクト™モードは、世界で唯一の完全に非接触のAFMスキャンモードであり、標準のスキャニングモードでも最も正確なスキャンが可能です。

走査型サーマル顕微鏡（SThM）

高空間および熱分解能顕微鏡

磁気力顕微鏡（MFM）

磁気特性の高解像度および高感度イメージング

磁場調整式磁気力顕微鏡（TM-MFM）

磁気特性の高解像度および高感度イメージング

化学力顕微鏡（CFM）

SPMの探針を化学修飾し、サンプル表面のケミカルインターラクションを計測します

電気化学顕微鏡（EC-AFM）

電極表面での電気化学反応のナノスケール構造を観察できます。

走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)

ナノピペットをプローブとして用い、電解液中で計測を可能にしたイオンコンダクタンス顕微鏡

Scanning ElectroChemical Cell Microscopy (SECCM)

サンプルのナノスケールの化学的特性に関する新たな洞察を提供します。