Park Systems

电学模式

对于需要关于电导率、样品电阻以及其他电学和形貌特性的准确数据的工程师和研究人员，Park提供了一系列电学扫描模式。

PinPoint™ AFM纳米电学模式

消除悬臂针尖和表面之间的侧向剪切力。

导电原子力显微镜 (C-AFM)

探测样品表面局部电子结构。

IV光谱

在采集样品图像后，对选定的样品区域进行IV光谱测量。

静电力显微镜 (EFM)

高分辨率和高灵敏度的静电力成像。

扫描开尔文探针显微镜 (KPFM)

表面电势的高分辨率和高灵敏度成像

动态接触EFM (DC-EFM)

静电力的高分辨率和高灵敏度成像

压电力显微镜 (PFM)

纳米尺度上的电机械材料性质以及样品形貌

压电力光谱学

针尖与样品表面之间直流偏置下的局部振幅/相位响应

QuickStep™ SCM

QuickStep™加速SCM数据采集

扫描电容显微镜 (SCM)

电荷分布的高分辨率和高灵敏度成像

扫描扩展电阻显微镜 (SSRM)

探测样品表面的局部电子结构

扫描隧道显微镜 (STM)

探测样品表面的局部电子结构

光电流映射 (PCM)

促进感光材料研究的创新