IV光谱
在采集样品图像后，对选定的样品区域进行IV光谱测量。
Park AFM具有在样品表面指定点上进行电流电压光谱学测量的能力。Park Systems的导电AFM选项的低噪声允许检测样品电子特性的微小变化。
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SRAM
扫描尺寸：2 µm
使用探针：CDT-ContR
在Park NX10上使用I-V光谱学模式成像。
通过使用纳米尺度的悬臂作为接触点，IV光谱学提供了作为施加到样品的针尖偏压电压（V）的函数的电流（I）的曲线图。为了研究样品表面的电学性质，在获取样品图像后，在选定的样品区域上进行IV光谱学测量