具有精确测量,高分辨率,用户友好型的特点。
赋予纳米技术产业创新力量。
从网络研讨会、教程、参考资料以及专家那里学习AFM技术。
满足您AFM需求的广泛而必要的工具。
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纳米创新与宏观投资潜力的交汇点。
随着对大平板显示器的原子力计量需求的增加,Park NX-Tip Scan Head克服了对300mm以上样品的纳米计量挑战。尖端扫描头和龙门式气浮轴承台使Park NX-TSH能够准确成像粗糙度测量、台阶高度测量和关键尺寸测量。原子力显微镜是最准确、非破坏性的方法,用于纳米级测量样品,使用Park NX-TSH,可以在OLED、LCD、光掩模等上获得可靠的高分辨率AFM图像。
专为大型纳米平板显示器测量而设计的自动化原子力显微镜(AFM)系统