FX40 with monitor

Park NX12

The Most Versatile AFM for Analytical Chemistry

Park NX12는 나노스케일 현미경을 위한 올인원 솔루션입니다. 다양한 속성 측정 기능을 갖춘 고해상도 이미징을 제공합니다. 전기화학 연구에 뛰어나며 다양한 연구 분야를 지원하는 다중 사용자 시설에 이상적입니다. 이 적응형 플랫폼은 나노기계적 맵핑, 스캐닝 이온 전도 현미경부터 도립 현미경에 이르기까지 다양한 응용 분야를 다룹니다. 유연성은 선택적 하드웨어 및 소프트웨어 추가 기능으로 더욱 향상되어 분석 연구자 및 다중 사용자 시설 사용자에게 이상적인 선택입니다.

멀티유저 연구실(Multi-User Labs )을 위한 제작

Park NX12는 처음부터 멀티유저 연구실의 필요에 맞게 고안 되었습니다. 다른 AFM 솔루션들은 이러한 시설에서 사용자의 다양한 요구를 해결하기 위해 필요한 기능들이 부족할 뿐만 아니라 이를 해결 하기 위한 비용 조차 부담스러운 것이 사실입니다. 그러나 Park NX12는 평상시 표준 AFM 이미징 뿐만 아니라 액체 속에서의 SPM, 광학 및 나노광학 이미징을 수용할 수 있도록 제작되어 있어 가장 유연한 AFM중 하나 입니다.

Inverted Optical Microscope for Transparent Material Research

광학 현미경(Inverted Optical Microscopy, IOM)에서 입증 된 NX10 성능: Park NX12는 Park AFM의 다양성과 정확성이 겸비된 샘플 스테이지에 IOM이 결합됩니다. 이것은 투명하거나 불투명한 혹은 부드럽거나 단단한 시료에서 전기 화학적 성질을 연구 할 수 있도록 합니다.

High-resolution Pipette-based Scanning Ion Conductance Microscopy

NX12는 초연성 샘플을 이미징하는 고해상도 스캐닝 이온 전도 현미경(SICM)을 위한 피펫 기반 스캐닝 시스템을 제공합니다.

Nano-resolution AFM Imaging with Multi-property Measurements

Park NX12는 전기, 자기, 열, 기계적 속성 측정 기능을 갖춘 나노미터 해상도 이미징을 위한 AFM입니다. 이 시스템은 PinPoint™ 액체 내 나노기계적 맵핑, 투명 샘플을 찾기 위한 도립 현미경, 초연성 샘플을 이미징하기 위한 SICM 및 투명 샘플을 위한 광학을 개선하는 향상된 비전을 포함한 다양한 기능을 제공합니다.

공유 사용자 시설을 위한 모듈형 플랫폼

  • 다양한 응용 분야

    Park NX12는 PinPoint ™ Liquid 및 Nanomechanical Mapping, 투명 샘플을 찾기 위한 IOM광학 현미경 검사, 초소형 샘플 이미지를 위한 SICM, 투명한 샘플의 광학을 개선하기 위한 비전 등을 포함한 다양한 기능이 가능 합니다.

    다양한 응용 분야
  • Comprehensive Force Spectroscopy Solution

    Park NX12는 액체 및 공기 중 나노기계적 특성화를 위한 완전한 패키지를 제공하여 광범위한 응용 분야에 이상적입니다.

    Comprehensive Force Spectroscopy Solution
  • Modular

    파크시스템스는 설치 후에도 옵션으로 제공되는 하드웨어 및 소프트웨어 애드온을 설치하여 NX12를 연구소만의 요구 사항에 맞게 쉽게 수정할 수 있습니다.

    Modular

Why the World’s Most Accurate Small Sample AFM is Also the Easiest to Use

  • Easy Tip and Sample Exchange

    사이드 접근을 용이하게 하는 독특한 헤드 디자인은 사용자가 손으로 새로운 팁과 샘플교체를 쉽게 합니다. 또한, 캔틸레버 팁 홀더에 부착된 미리 조정된 캔틸레버를 이용하여 스캔을 할 수 있기 때문에 까다로운 레이저 빔 정렬이 필요 없습니다.

    Easy Tip and Sample Exchange
  • Lightning Fast Automatic Tip Approach

    팁에서 샘플까지의 자동적 접근법은 사용자 개입을 요구하지 않으며 캔틸레버에 하중을 가한 후 10초 이내로 작동될 수 있게 맞물립니다. 접근표면에 대한 캔틸레버 반응을 관찰함으로써, Park Systems의 NX10은 굽힘 하중을 팁에서 샘플까지의 자동적 접근법으로 10초 내에 시작할 수 있습니다. 빠른 속도를 갖는 Z 스캐너의 신속한 피드백과 NX 전자 컨트롤러가 처리하는 낮은 노이즈 신호는 사용자 개입 없이 샘플표면에 대한 빠른 정렬을 가능하게 합니다. 이는 최소한의 사용자 참여만을 요구합니다.

    Lightning Fast Automatic Tip Approach
  • Easy, Intuitive Laser Beam Alignment

    레이저 빔은 미리 조정된 캔틸레버 홀더에 의하여 캔틸레버에 위치 됩니다. 더욱, 축 중심 탑-다운 뷰는 레이저 스팟을 쉽게 발견할 수 있게 합니다. 이는 레이저 빔이 캔틸레버에 수직으로 떨어지므로, 사용자는 두 개의 손잡이를 회전시켜 레이저 스팟을 X, Y축에 따라 움직이게 할 수 있습니다. 결과적으로 사용자는 빔-얼라이먼트 사용자 인터페이스를 이용하여 레이저를 쉽게 발견할 수 있으며, PSPD에 수월하게 배치할 수 있습니다. 여기서부터는 시그널의 최대화를 위한 약간의 조정만이 필요합니다.

    Easy, Intuitive Laser Beam Alignment

Applications

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