파크시스템스는 측정의 정확성과 최상의 해상도를 제공하는 동시에, 사용자 편의성을 극대화하는다양한 원자현미경 핵심기술을 보유하고 있습니다. XY & Z 스캐너의 분리된 구조를 통해 측정의 정확성을 제공하여 왜곡 없는 이미지를 보장하며, True Non-Contact 기술로 팁과 시료에 손상을 가하지 않고 최상의 해상도를 제공합니다. 또한 사용자 편의를 강화한 디자인으로 팁과 시료의 로딩을 간소화하여 시료에 쉽게 접근할 수 있고, 빠른 팁-표면 접근 및 관심 영역으로의 효율적인 탐색을 보장합니다. 뿐만 아니라, AI 기반 운영 체제인 SmartScan을 통해 초보자와 전문가 모두가 쉽게 사용할 수 있게 되었습니다.
Leading in Nanoscale Tech Solutions.
Advancing the Boundaries of Semiconductor Engineering.
Built for Unique Applications.
Get the Data You Need with Park's Selection of Scanning Modes.
Easily Customize Our AFMs to Fit Your Unique Needs.
Accelerate Discovery with Seamless AFM Integration.
파크시스템스 원자현미경은 신뢰성과 재현성이 높고, 고해상도를 보장하는 데이터를 제공합니다.
세계 유일의 True Non-Contact 기술을 특징으로 하여 시료를 보존하면서 팁 수명을 연장하며, 독립적인 XY 및 Z 스캐너를 통해 탁월한 정확도와 해상도를 제공합니다.
파크시스템스만의 flexure 구조를 활용한 독립적인 XY 및 Z 스캐너 디자인은 더 향상된 나노 해상도에서 비교할 수 없는 데이터 정확성을 제공합니다.
파크시스템스 원자현미경은 시장에서 가장 효과적인 low noise Z 감지기를 장착하고 있으며, 넓은 대역폭에서 0.02 nm의 noise를 가지고 있습니다. 이는 시료의 매우 정확한 토포그래피 측정을 가능하게 하며, 가장자리의 측정에러를 최소화합니다. 이를 통하여 적은 시간에 최적의 데이터를 제공합니다.
True Non-Contact™ 모드는 파크시스템스 원자현미경만의 스캔 모드로, 스캔 중 탐침과 시료와의 상호작용의 손상을 방지하며
고해상도의 정확한 데이터를 생성합니다.
