大型試料の欠陥検査および欠陥解析
Park NX20は、デバイス故障の原因を解明し、より創造的なソリューションの開発を容易にする独自の機能を備えています。その卓越した精度は、高解像度のデータを提供し、真のノンコンタクト™モードによりチップの長寿命化を実現します。Park NX20は、業界をリードするユーザーフレンドリーな設計と自動化されたインターフェースを特徴としており、ツールの操作やエンジニアの指導にかかる時間とエネルギーを最小限に抑えます。これにより、大規模な問題の解決やタイムリーな故障解析に集中し、ユーザーに価値ある洞察を提供することができます。