欠陥レビューと表面粗さ測定のための最適な設計
Park Systemsの自動化AFMは、ウェーハ処理計測において優れた性能を発揮するよう設計されており、重要な測定および分析タスクのための精密なツールセットを提供します。これらの高度なシステムは、半導体ウェーハ処理に必要な詳細な計測を容易にし、製造プロセスの改善と製品品質の向上を支援する一貫した正確で広範なデータを提供します。既存の処理ラインとシームレスに統合するように設計されており、半導体生産工学と品質保証のための強力なソリューションを提供します。