用于故障分析与敏感材料研究的高真空原子力显微镜
Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量具有准确度高、可重复性好及针尖和样本损伤低等优点,因此用户可测量各种故障分析应用中许多信号响应,例如扫描扩散电阻显微术(SSRM)的掺杂物浓度。 Park NX-Hivac使得真空环境中高精准度和高分辨率测量的材料科学研究远离氧气与其它药剂的影响。
Park NX-Hivac 是一种高真空 AFM,非常适合精确的半导体故障分析和敏感材料研究。它在高真空环境中运行,提供更高的准确性和重复性,最大限度地减少探针和样品的损坏。它是包括使用扫描扩展电阻显微镜(SSRM)进行掺杂浓度评估在内的各种应用的关键。通过 Park Systems 直观的 Hivac 管理器和自动真空控制,Park NX-Hivac 简化了真空过程,并提供快速的真空条件。Park NX-Hivac 在无氧真空环境中提供高精度研究。
Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量具有准确度高、可重复性好及针尖和样本损伤低等优点,因此用户可测量各种故障分析应用中许多信号响应,例如扫描扩散电阻显微术(SSRM)的掺杂物浓度。 Park NX-Hivac使得真空环境中高精准度和高分辨率测量的材料科学研究远离氧气与其它药剂的影响。
在高真空条件下执行扫描扩散电阻显微镜测量可减少所需的针尖-样品相互作用力,从而大幅度降低对样品和针尖的损伤。如此可延长各针尖的使用寿命,使扫描更加低成本和便捷,并通过提高空间分辨率和信噪比得到更为精准的结果。因此,利用NX-Hivac进行的高真空扫描扩散电阻显微术测量可谓是故障分析工程师增加其吞吐量、减少成本和提高准确性的明智选择。