SIMON是专门为日常测量任务而特别设计的。其简单的用户界面和强大的定角椭偏法能够使您轻松进入到椭偏成像领域。它可以在两种不同的模式下运行。其中，显微镜模式非常快，并且允许在最薄层（例如单层：d=0.35nm）中观察变化和缺陷，而椭偏模式则能够测量样品材料的厚度和折射率。 成像椭偏法本身将厚度和折射率测量的灵敏度与显微镜成像相结合。这允许利用例如微结构样品上的微观图像来确定厚度和折射率变化。 典型的应用包括在品控中对大样品的均匀性和缺陷进行表面检查，或对二维材料薄片进行快速定位。
SIMON设计用于自动拼接大面积区域，过渡平滑。可以在47分钟内检查一个完整的4英寸晶圆，同时观察小至10微米的缺陷、颗粒和不均匀性。SIMON还允许搜索具有所需厚度的片材或材料。通过SIMON的成像功能，可以对单次测量进行直方图分析，并详细了解厚度或不均匀性的分布。
椭偏仪和显微镜的结合可以测量样品的厚度图。这些图与AFM测量结果相当，但也可以测量非顶层。此外，成像椭偏仪将在不到1分钟的时间内测量约500微米（X）x 550微米（Y）的厚度图。厚度分辨率在0.01 nm < d < 5 μm*的范围内低于0.01 nm。椭偏模式还可以确定折射率。这使用户能够确定折射率变化，例如在激光刻写的全息光栅中发生的变化。因此，可以可视化并观察到波导中看到的折射率的微小变化。*取决于样品/基板的组合
