우리는 일반적으로 100 mm x 100 mm 이하의 소형 샘플을 다루는 연구에 필수적인 소형 샘플 원자 현미경(Atomic Force Microscope, AFM) 시리즈를 통해 나노스케일 탐사에서의 정밀도를 새롭게 정의합니다. 이 AFM들은 재료 과학부터 나노 전자공학까지 다양한 분야에서 과학적 이해를 증진시키는 데 중요합니다. 각 소형 샘플 AFM에는 핵심 AFM 기술이 통합되어 있어, 비접촉 스캐닝의 장점과 사용자 친화적인 작동을 통해 탁월한 정확성을 제공합니다. 소형 샘플 AFM 제품군은 특정 연구 요구 사항, 환경 및 예산에 맞춘 맞춤형 솔루션을 제공합니다. 이 Park 원자 현미경 시리즈는 나노스케일에서 세밀한 표면 이미징과 정확하고 고해상도의 측정을 가능하게 합니다.
