Park NX1
초고해상도 이미징을 위해 설계된 AFM
Park Systems NX1 Atomic Force Microscope for nanoscale metrology
Park NX1은 안정적인 작동으로 고해상도 이미징을 구현하는 고성능 AFM입니다. 기계적 강성이 높은 구조와 온도 변화에 따른 변형을 최소화한 본체를 기반으로, 원자 수준의 이미징 성능과 파크시스템스 장비 특유의 사용 편의성을 동시에 제공합니다.

프로브와 샘플 사이의 기계적 경로를 최소화한 스틱-슬립 스테이지 구조로 외부 노이즈 영향을 효과적으로 억제하며, 낮은 노이즈 플로어를 기반으로 안정적인 원자 해상도 이미징을 구현합니다.

스틱-슬립 방식을 통해 샘플의 XY 위치를 조정할 수 있으며, 광축 정렬 광학 현미경을 통해 작동 중 프로브와 샘플을 동시에 관찰할 수 있습니다. 또한, 표준 AFM 프로브는 물론 옵션으로 qPlus® (석영 튜닝 포크) 센서를 지원합니다.
핵심 기능
Park NX1 with labeled key components and highlighted features
Park NX1 with labeled key components and highlighted features
최적화된 AFM 아키텍처
NX1은 컴팩트하면서도 기계적 강성이 높은 구조로, 프로브와 샘플 간 기계적 경로를 최소화해 낮은 노이즈와 높은 안정성을 구현합니다. 정밀한 XYZ 튜브 스캐너와 텅스텐 카바이드 스틱-슬립 스테이지, 키네마틱 정렬 구조로 안정적인 위치 제어를 구현하고, 온도 변화에 따른 변형을 최소화한 소재로 드리프트를 억제해 안정적으로 원자 해상도 이미징을 제공합니다.
직관적인 레이저 빔 정렬
NX1은 분리형 빔 바운스 검출 모듈을 적용하여 측정 안정성을 확보합니다. 직관적인 레이저 정렬로 초기 설정을 간소화하고, 캔틸레버 상에 레이저를 빠르게 정렬해 안정적인 신호 획득을 지원합니다.
Intuitive laser beam alignment process for precise optical setup
Intuitive laser beam alignment process for precise optical setup
우수한 저노이즈 성능
NX1은 최적화된 아키텍처를 바탕으로 일반적인 AFM 대비 약 10배 낮은 노이즈 플로어를 구현합니다. 이러한 저노이즈 특성은 신뢰도 높은 측정 환경을 제공하며, 정밀한 신호 획득과 원자 해상도 이미징을 가능하게 합니다.
Noise floor comparison between NX1 and typical AFM
Noise floor comparison between NX1 and typical AFM
광축 정렬 광학 현미경
NX1은 프로브와 샘플을 동시에 직접 관찰할 수 있는 고해상도 광축 정렬 광학 현미경을 탑재해, 정확한 팁 위치 제어와 효율적인 샘플 위치 이동을 지원합니다. 소프트웨어로 조명을 쉽게 제어할 수 있어 다양한 샘플에서도 선명한 시야를 확보하고, 초기설정을 간소화하며 측정 정확도를 향상시킵니다.
Vision from NX1 Optics
Vision from NX1 Optics
qPlus® 센서 옵션
NX1은 석영 튜닝 포크 기반의 qPlus 센서를 옵션으로 지원해 원자 수준의 정밀 측정을 구현합니다. 높은 강성을 바탕으로 피코미터 수준의 진폭에서도 안정적으로 구동되며, 팁이 샘플에 급격히 접촉하는 현상을 최소화합니다.
Standard AFM Probe holder and qPlus sensor holder
Standard AFM Probe holder and qPlus sensor holder
애플리케이션