Accurion i4 Series 高性能和设计 i4是一种先进的主动隔震台,它可抵消敏感设备的不必要振动和其他干扰对高精度测量设备产生的影响。除了低剖面低碳设计,该系列最主要的特点是操作简单,易于使用。i4系列多功能主动隔震台具有两个版本,用于各种应用,极大地提高应用的灵活性。i4系列隔震台的隔震从0.6 Hz开始,在10 Hz时达到最佳效果-40分贝, 99%的振动被隔离。 i4系列隔震台的稳定时间非常短,除此之外,它主要的优点是很弱的低频共振,低频共振是主动减震台和被动减震台的最大区别,在低频率震动中,被动隔震台将会放大振动而不是隔离振动。隔震台的工作不需要压缩空气,只需要供应电源的插座。在六个自由度的方向上, i4系列隔震台都提供了主动补偿,以实现隔震效果。 Brochure Request for Quote × ×
主要功能 六个自由度主动隔振 无低频共振 - 低频范围内具有优异的隔振特性 低至0.6Hz开始主动隔振(>200Hz被动隔振) 只需0.3秒的设置时间 自动调节负载和运输锁 因固有刚度具有高度的位置稳定性 接电即可,无需压缩空气 真正的主动隔振:即时产生反作用力来抵消振动 适用于多种应用的多功能隔离系统
主要功能 六个自由度主动隔振 无低频共振 - 低频范围内具有优异的隔振特性 低至0.6Hz开始主动隔振(>200Hz被动隔振) 只需0.3秒的设置时间 自动调节负载和运输锁 因固有刚度具有高度的位置稳定性 接电即可,无需压缩空气 真正的主动隔振:即时产生反作用力来抵消振动 适用于多种应用的多功能隔离系统
Brochure Drawing i4 Brochure i4 i4 UNC i4 M6-25 i4 Medium i4 Medium UNC i4 Medium M6-25 i4 Large i4 Large UNC i4 Large M6-25
应用 Scanning Probe Microscopy Nanoindentation Digital Microscopy 3D Surface Metrology Confocal Microscopy Micromanipulation Electron Microscopy Mass Photometry
Leica DCM8 on i4 large Lumicks AFS on i4 Sensofar Q vix on i4 medium LNP3 DC on i4 Refeyn One on i4 JEOL Neoscope on i4 Nanosurf DriveAFM and inverted microscope on i4 Molecular Vista One on i4 Bruker JPK NanoWizard BioAFM and inverted microscope on i4 Keyence VHX-6000 on i4
Performance Demonstration Floating monolayer of ethylstearate(FoV: 400 µm x 400 µm) Polymer drop on silicon substrate(FoV: 50 µm x 50 µm) Gold on carbon SiC wafer with graphene (FoV: 0.5 µm x 0.5µm) SiC wafer with graphene (FoV: 0.5 µm x 0.5µm)